>: @@@ Nem alkalmaznak redundans funkcionalis egysegeket...? @@@
>
>Funkcionalis egyseg szinten nem. A cache-nel lehet olyanokat csinalni,
>hogy van +1 cache-line, ami alapesetben nem mukodik. Aztan, ha a teszt
>kozben kiderul, hogy egy "normalis" cache-line bithibas, akkor ezt kikotik
>es bekotik a +1. sort (vagy lekapcsoljak azt a fe'l cache-t, amiben a
>bithiba elofordul es eladjak a procit Celeronkent).
Bar mar regen (15 eve) nem dolgozom az elektronikai iparban, de nehany
korabban ismert tesztelesi,es hibajavitasi lehetosegrol szolnek, csak ugy
cimszavakban.
Valo igaz, hogy a redundans egysegeket foleg a memoria csippek hibas
cellakat tartalmazo sorainak, es oszlopainak helyettesitesere talaltak ki.
Erre szolgalo optimalizalo program irasaban magam is reszt vettem. Egyetlen
hibas cella javitasa miatt egy egesz sort, vagy oszlopot le kell cserelni,
es tobb hiba eseten ugyeskedni kell, hogy a leheto legkevesebb javitosort,
es oszlopot hasznaljunk fel. Sajnos nagy mennyisegu linearisan fuggetlen
hiba kijavitasahoz nagy mennyisegu tartalek memoria betervezesere van
szukseg, ami szinten plusz koltseg, raadasul foglalja a helyet a csipen,
mikozben a tenyelegesen funkcionalo csipterulet aranyat er. A csipgyartas
kulonbozo merteku kihozatalahoz kulonbozo optimumok tartoznak arra
vonatkozoan, hogy mennyi cellat erdemes meg javithatova tenni, mennyit
celszeru kidobni.
A modern mikroprocesszorok szamos funkcionalis egysege szinten tartalmaz
memoriakat, vagyis mikroprogramozottak, szemben a korabbi huzalozott
logikaval. Itt szinten lehetoseg van a mikroprogramokat ugy modositani, hogy
a hibas memoriaba kerulendo kodreszeket a mikroprogram kihagyja, atugorja.
Ez a leggazdasagosabb javitasi lehetoseg, hiszen a hibak egyenkent
javithatoak.
Szinten bizonyos foku rugalmassaggal alakithatoak a programozhato logikai
tombok programozasa, ha redundans cellak allnak rendelkezesre. Persze ezek
javitasa a memoriakhoz hasonlatosan csak nagyfoku tultervezessel oldhato
meg, igy a gazdasagossagot kulon vizsgalni kell.
Mas funkcionalis egysegek redundans tervezesenel is altalaban a
gazdasagossag a fo szempont, de emellett azt is figyelembe kell venni, hogy
a redundans elemek adott esetben csak az ertekes helyet foglaljak.
A modern aramkorok oly mertekben vannak miniaturizalva, amennyire ez csak
lehetseges. Itt valoban a techonolgia lehetosegeinek a hatarain mozgunk.
Ennek szuksegszeru folyamanya, hogy a kihozatali rata meglehetosen alacsony,
es nagy a selejtarany. Minnel nagyobb a sejeltarany, annal inkabb szukseges
a redundans elemek betervezese, es ellenkezoleg, minnel kisebb a selejt,
annal inkabb foloslegesse valik a redundans elemek tervezese. Egy szerenyebb
miniaturizalas mellett nagy biztonsaggal lehetne kevesbe bonyolult, es gyors
aramkoroket gyartani, de ezek piaca eleg gyorsan szukul.
A funkcionalis tesztelesre altalaban ket alkalommal kerul sor. Az elsonel a
szilicium csipet meg nem daraboltak fel, de az aramkorok mar keszen vannak
rajta. A csipen szamos olyan csatlakozo felulet van, amelyek egyreszt a
tokozas kivezetesei lesznek, masreszt direkt a tesztelesre, es javitasra
szolgalnak. Ez utobiakhoz a mar kesz tokozott aramkorben nincs hozzaferesi
lehetoseg. A csatlakozo feluletekre rugalmas femtuskek erdejevel csatlakozik
a meroberendezes, amely valos idoben teszteli a tesztelendo aramkor
valamennyi parameteret. Az elso teszt reszletes, es minden lehetseges hibat
ki kell mutatnia, tovabba, ha van javitasra lehetoseg, akkor ezeket a
javitasokat is el kell vegeznie, majd a javitas eredmenyesseget is
tesztelnie kell. Mivel itt plusz csatlakozasi lehetosegek allnak
rendelkezesre, igy a funkcionalis egysegek kulon-kulon is tesztelhetok, ami
nagymertekben javitja a lehetseges allapotok teszteltsegi aranyat. E
teszteles alkalmaval a csip osztalyzasat is el lehet vegezni. Ugyanis ha egy
csip egy nagysebessegu orajelen hibasan mukodik, attol meg mukodhet helyesen
csokkentett orajelen. Az mar gazdasagi dontes, hogy egy csokkenett orajelu
aramkort forgalomba hoznak-e, vagy inkabb kidobnak osztalyozas nelkul. Fura
a vilag. Manapsag olyan csipek kerulnek a selejbe, amelyek nehany eve meg
elkepzelhetetlenul nagy kapacitasu aramkoroknek szamitottak volna. Nem
tudom, de nagyon el tudom kepzelni, hogy a teszteleshez hasznalatos
csatlakozofeluletek akkora helyet foglalnak, hogy azok nagy reszet a
darabolas eltavolitja a kesz csiprol. Az elso tesztet koveti a csip
darabolasa, tokozasa, es a tok csatlakozasainak a csiphez forrasztasa. Ezt
koveti a vegso teszteles, ahol joszerevel mar csak a darabolas, es a tokozas
altal okozhato hibakat kell tesztelni, amit csak rovid funkcionalis tesztel
egeszitenek ki.
A pentiumok emlitett osztashibajanak tesztelese nem feladata a gyartasnak,
es nem is gyartasi- technologiai hibarol van szo. Ez a mikroprogram
tervezeseben elkovetett algoritmikus hiba, ami a legtokeletesebb technologia
mellett is a processzorba kerul. Amolyan konstrukcios hiba. En az ALU
osztasmuveletenek nem definialt flagjeit is konstrukcios, es koncepcionalis
hibanak tartottam, amelyet az x86 processzor teljes csaladfaja orokolt. Ezt
a hianyosagot csak az enyhiti, hogy a lebegopontos egyseg (FPU) nem ennyire
szerencsetlen e muvelet tekinteteben, es az ujabb processzoroknal az FPU mar
versenykepes az ALU-val.
Udv: Takacs Feri
|
